35. Nguy棚n l箪 ho畉t 畛ng c畛a AFM
Khi m滴i nh畛n qu辿t g畉n b畛 m畉t m畉u s畉 xu畉t hi畛n l畛c van der Waals gi畛a c叩c nguy棚n t畛
lm rung thanh cantilever.
Dao 畛ng c畛a cantilever 動畛c ghi l畉i nh畛 m畛t tia laser chi畉u qua b畛 m畉t c畛a thanh.
Dao 畛ng c畛a cantilever lm thay 畛i g坦c l畛ch c畛a tia laser v 動畛c detector ghi l畉i.
Vi畛c ghi l畉i l畛c t動董ng t叩c trong qu叩 tr狸nh thanh rung qu辿t tr棚n b畛 m畉t s畉 cho h狸nh 畉nh
c畉u tr炭c b畛 m畉t c畛a m畉u v畉t.
B畛 i畛u khi畛n qu辿t theo
chi畛u x, y, z 叩p i畛n
L畛i ra v i畛u
khi畛n ph畉n h畛i
畉u d嘆C畉u n h畛i
Photo detector
nh畉y v畛 tr鱈
Photo detector
nh畉y v畛 tr鱈
M畉u
L動畛c 畛 畉c tr動ng c畛a k鱈nh hi畛n vi l畛c
nguy棚n t畛 bi畛u th畛 m畛t s畛 b畛 ph畉n ch鱈nh c畛a
thi畉t b畛. Kho畉ng c叩ch gi畛a 畉u kim v b畛 m畉t
m畉u n畉m trong kho畉ng t畛 0 歎 100 nm
35
36. C叩nh tay 嘆n 畉u d嘆 c畛a AFM
X辿t c叩nh tay 嘆n c坦 d畉ng kh畛i h畛p ch畛 nh畉t:
T叩c d畛ng l畛c Fkim L;
畛 cng bi畉n d畉ng c畛a c叩nh tay 嘆n:
Theo 畛nh lu畉t Hooke:
H畉ng s畛 n h畛i:
T畉n s畛 c畛ng h動畛ng nh畛 nh畉t 0 c畛a c叩nh tay 嘆n khi dao 畛ng t畛 do:
N畉u l畉y g畉n 炭ng meff m/5, thay vo bi畛u th畛c 0:
V鱈 d畛: Gi畉 thi畉t: L = 100 袖m, w = 10 袖m, z = 1; Y = 1,6.1011 kg.m-3.
Thay vo c叩c bi畛u th畛c: K = 0,40 N/m, Fkim = 40 pN, 0 = 927 kHz
x
z
y
O
L
xx
0
L
Y
L
kim
F = K.z
3
1 h
K = wY
4 L
0
eff
K
=
m
0 2
m
Y h
= 1,02 .
L
z
x
L0
Ftip
0
h
R + 慮
2
0
h
R - 慮
2
36
37. Nguy棚n l箪 ho畉t 畛ng c畛a AFM
AFM c坦 th畛 ho畉t 畛ng theo ba c叩ch
kh叩c nhau:
D畉ng ti畉p x炭c - tip 動畛c k辿o d畛c theo b畛
m畉t m畉u; 畛 l畛ch cantilever 動畛c o v
v chuy畛n thnh d畉ng b畛 m畉t. d畉ng
ny c坦 th畛 lm h動 h畉i b畛 m畉t.
D畉ng kh担ng ti畉p x炭c - cantilever dao
畛ng tr棚n b畛 m畉t m畉u v b畛 畉nh h動畛ng
b畛i l畛c b畛 m畉t v tip (van der Waals).
D畉ng Tapping - tip AFM ti畉p x炭c gi叩n
o畉n tr棚n b畛 m畉t m畉u trong su畛t nh畛ng
i畛m ti畉p x炭c g畉n nh畉t c畛a chu tr狸nh dao
畛ng.
37
49. 畛ng d畛ng
T畉 bo g畛c C2C12 di chuy畛n tr棚n b畛 m畉t th畛y tinh.
Khu畉n E-coli
ADN ang n畛i l畉i tr棚n t畉m Mica.
Chu畛i DNA 動畛c h狸nh dung nh動 m畛t ph畛c h畛p mng RecA protein.
49
50. Ti li畛u tham kh畉o
[1] Picraux, S. Tom, Nanotechnology, Encyclop脱dia Britannica, Inc.
[2] Binnig, C. F. Quate and Ch. Gerber, "Atomic Force Microscope," Phys. Rev. Lett,
vol. 56, pp. 930 - 933, 1986.
[3] G. Binnig, Ch. Gerber, E. Stoll, T. R. Albrecht and C. F. Quate, "Atomic Resolution
with Atomic Force Microscope," Europhys. Lett., vol. 3, pp. 1281-1286, 1987.
[4] Giessibl, Franz J., "Advances in atomic force microscopy," Rev. Mod. Phys., vol.
75, pp. 949 - 983, 2003.
[5] S. Y. J. O. K. M. N. R. W. S. Jingjie Hua, "Investigation of adhesive interactions in
the speci鍖c targetingof Triptorelin-conjugated PEG-coated magnetite nanoparticlesto
breast cancer cells," Elsevier Journal, vol. Acta Biomaterialia 71, pp. 363-378, 2018.
[6] Hans-J端rgen Butt, Alf Mews, Bernward Engelen, "Characterization of physical
properties of polymers using AFM force-distance curves," ResearchGate, 2007.
[7] o Kh畉c An, C担ng ngh畛 micro v nano i畛n t畛, Nh xu畉t b畉n Gi叩o d畛c Vi畛t
Nam, 2009.
[8] Scan courtesy J. Brockman, F. Harmon and S. Kowalczykowski, University of
California, USA.
50