際際滷

際際滷Share a Scribd company logo
DEVRE ANAL聴Z聴 LABORATUARI
DENEY 1 ve 2
聴STAT聴ST聴K RNEKLEME
VE
LME HATALARI
DENEY 1: 聴STAT聴ST聴K RNEKLEME
1- A巽脹klama
Bu deneyin amac脹; 旦rnekleme teknii ile istatistik analizinin nas脹l yap脹ld脹脹n脹 a巽脹klamakt脹r. 聴statistik
analiz ile 旦l巽端 sonu巽lar脹nda oluabilecek muhtemel deiimlerin sonu巽lar脹 belirlenir.
聴mal edilen be y端z bin veya bir milyon adet direncin t端m端n端 test etmek m端mk端n deildir. Bunlar脹n
belirli say脹daki numunesi test edilerek, diren巽lerin doruluk dereceleri tespit edilir. Yap脹lan
旦l巽melerden elde edilen sonu巽lara g旦re ekil 1.2deki da脹l脹m erisine g旦re deerler elde edilir.
%68
-1S +1S
ekil 1.2 Normal da脹l脹m erisi
Bu deneyde gerekli olan eitlikler aa脹da 巽脹kart脹lm脹t脹r.
1. Ortalama: 鐃=(X1+X2++Xn) / n
2. Sapma: D1=X1鐃
D2=X2鐃
Dn=Xn鐃
3. Ortalama sapma: D=(|倹1| + |倹2| +..+|倹倹倹|) / n
4. Standart sapma: S=鐃(倹12 + 倹22 +  + 倹倹倹2)/
Burada; X1, X2,,Xn deerleri 旦l巽端len b端y端kl端klerdir.
2- Gerekli Cihaz ve Elemanlar
1. 10 adet ayn脹 renk kodlu diren巽 (r: 2.2 K ohm)
2. 1 adet multimetre
3- Yap脹lacak 聴lemler
1. Multimetre ile her bir direncin deerini 旦l巽端p Tablo 1.2ye kaydediniz.
2. Rastgele olarak 8 adet diren巽 se巽iniz. Deerleri 旦l巽端p kaydediniz.
3. Yan脹n脹zdaki gruptan alaca脹n脹z diren巽leri ile kendi diren巽lerinizi tekrar kar脹t脹r脹p i巽inden 12 adet
se巽iniz. Deerlerini 旦l巽端p kaydediniz.
4. Diren巽leri tekrar kar脹t脹r脹p i巽inden 16 adet se巽iniz. Deerlerini 旦l巽端p kaydediniz.
5. ekil 1.3te verilmi 旦rnek histogram gibi, 1.脹kta 旦l巽端len 2.2 K立 luk diren巽lerin histogram脹n脹
巽iziniz.
6. 2. 3. ve 4. 脹klardaki diren巽lere ait histogramlar脹 巽iziniz.
7. izilen her bir histogram脹n tepe deerlerini ekil 1.3teki kesikli 巽izgi gibi 巽iziniz.
8. Her 端巽 旦rnee ait ortalama sapmay脹 (D) hesaplay脹n脹z.
9. Her 端巽 旦rnee standart sapmay脹 (S) hesaplay脹n脹z.
10. 1. 脹ktaki toplam diren巽lerin ortalama ve standart sapmalar脹n脹 hesaplay脹p Tablo 1.2ye yaz脹n脹z.
ekil 1.3 Etiket deeri 150  olan diren巽lerin da脹l脹m erisi
Tablo 1.2
Diren巽 deeri rnek-1 rnek-2
Ortalama sapma (D) rnek-3
1:
2:
3:
1. 脹k:
Standart sapma (S)
1:
2:
3:
1. 脹k:
DENEY 2: LME HATALARI
1- A巽脹klama
Bu deneyde 旦l巽端 hatalar脹n脹n kaynaklar脹 incelenerek deney sonu巽lar脹ndaki hatalar脹n analizi yap脹lacakt脹r.
Hata, 旦l巽端len deer ile ger巽ek deer aras脹ndaki farkt脹r. Herhangi bir 旦l巽mede bir巽ok hata olabilir. Bu
hatalar脹 en 旦nemlisi ve en etkilisin hangisi olduu bilinmelidir. eitli hata kaynaklar脹 vard脹r.
1. Eleman tolerans脹ndan kaynaklanan hatalar
2. Okuma hatalar脹
3. Cihaz hatalar脹
4. Deney hatalar脹
Bu deneyde kullan脹lacak eitlikler aa脹da g旦sterilmitir.
1. Ortalama diren巽 : Ro=(R1+R2+..+Rn) / n
2. Hata deeri : R=[(Rmax-Ro)+(Ro-Rmin)] / 2
3. Ba脹l hata : %R=(Ro-Rg) / Rg Rg=direncin ger巽ek deeri
4. ekil 1.1 i巽in : Rb=RaEo / (Ei-Eo)
2- Gerekli Cihaz ve Elemanlar
1. 1 adet dc g端巽 kayna脹
2. 1 adet b端y端k giri diren巽li voltmetre
3. 10 adet 2.2 k立luk diren巽
4. 1 adet 1 k立luk diren巽
3- Yap脹lacak 聴lemler
3.1. Eleman toleranslar脹ndan kaynaklanan hatalar:
1. ekil 1.1deki deney devresini kurunuz.
voltmetre
Ra=1 k立
Rb=2.2 k立
Eo
Ei
ekil 1.1 Diren巽 旦l巽端m devresi
2. Ei gerilimi ayarlayarak Eo=10 V olmas脹n脹 salay脹n脹z. Bu durumdaki Ei gerilimini kaydediniz.
Deneyin bundan sonraki k脹s脹mlar脹nda da ayn脹 deerlerde kalmas脹na dikkat ediniz.
3. Dier 2.2 k立luk diren巽leri s脹ra ile Rb direnci olarak balay脹n脹z ve her birine ait Eo gerilimlerini
旦l巽端n端z.
4. 4 eitliini kullanarak 旦l巽端len 10 adet Rb direncinin her birini hesaplay脹n脹z ve Tablo 1.1e
kaydediniz.
5. 1 eitliinden, ortalama direnci hesaplay脹n脹z.
6. 2 eitliinden hata deerini hesaplay脹n脹z.
7. Rg= 2.2 k立 olduuna g旦re 3 eitliinden ba脹l hatay脹 hesaplay脹n脹z.
8. l巽端len ve hesaplanan deerleri Tablo 1.1e yerletiriniz.
3.2. Okuma hatalar脹:
1. Bilinmeyen bir Rx direnci her bir deney grubu taraf脹ndan ve benzer 旦l巽端 sistemleri ile
旦l巽端lecektir.
2. Her bir 旦l巽端 sonucu Tablo 1.1e yaz脹lacakt脹r.
3. 1 ba脹nt脹s脹ndan ortalama deeri hesaplay脹n脹z.
4. 2 ba脹nt脹s脹ndan hata deerini hesaplay脹n脹z.
5. 3 ba脹nt脹s脹ndan ba脹l hatay脹 hesaplay脹n脹z.
6. Elde edilen sonu巽lar脹 Tablo 1.1e kaydediniz.
Tablo 1.1
Eleman toleranslar脹ndan kaynaklanan hatalar (3.1) Okuma hatalar脹 (3.2)
Eo Rb (deerleri) Ei Diren巽 deerleri Ortalama deer
Ortalama Rb
Hata deeri
Hata deeri
Ba脹l hata
Ba脹l hata
Rnin ger巽ek de.

More Related Content

Deney 1 ve 2

  • 1. DEVRE ANAL聴Z聴 LABORATUARI DENEY 1 ve 2 聴STAT聴ST聴K RNEKLEME VE LME HATALARI
  • 2. DENEY 1: 聴STAT聴ST聴K RNEKLEME 1- A巽脹klama Bu deneyin amac脹; 旦rnekleme teknii ile istatistik analizinin nas脹l yap脹ld脹脹n脹 a巽脹klamakt脹r. 聴statistik analiz ile 旦l巽端 sonu巽lar脹nda oluabilecek muhtemel deiimlerin sonu巽lar脹 belirlenir. 聴mal edilen be y端z bin veya bir milyon adet direncin t端m端n端 test etmek m端mk端n deildir. Bunlar脹n belirli say脹daki numunesi test edilerek, diren巽lerin doruluk dereceleri tespit edilir. Yap脹lan 旦l巽melerden elde edilen sonu巽lara g旦re ekil 1.2deki da脹l脹m erisine g旦re deerler elde edilir. %68 -1S +1S ekil 1.2 Normal da脹l脹m erisi Bu deneyde gerekli olan eitlikler aa脹da 巽脹kart脹lm脹t脹r. 1. Ortalama: 鐃=(X1+X2++Xn) / n 2. Sapma: D1=X1鐃 D2=X2鐃 Dn=Xn鐃 3. Ortalama sapma: D=(|倹1| + |倹2| +..+|倹倹倹|) / n 4. Standart sapma: S=鐃(倹12 + 倹22 + + 倹倹倹2)/ Burada; X1, X2,,Xn deerleri 旦l巽端len b端y端kl端klerdir. 2- Gerekli Cihaz ve Elemanlar 1. 10 adet ayn脹 renk kodlu diren巽 (r: 2.2 K ohm) 2. 1 adet multimetre 3- Yap脹lacak 聴lemler 1. Multimetre ile her bir direncin deerini 旦l巽端p Tablo 1.2ye kaydediniz. 2. Rastgele olarak 8 adet diren巽 se巽iniz. Deerleri 旦l巽端p kaydediniz. 3. Yan脹n脹zdaki gruptan alaca脹n脹z diren巽leri ile kendi diren巽lerinizi tekrar kar脹t脹r脹p i巽inden 12 adet se巽iniz. Deerlerini 旦l巽端p kaydediniz. 4. Diren巽leri tekrar kar脹t脹r脹p i巽inden 16 adet se巽iniz. Deerlerini 旦l巽端p kaydediniz. 5. ekil 1.3te verilmi 旦rnek histogram gibi, 1.脹kta 旦l巽端len 2.2 K立 luk diren巽lerin histogram脹n脹 巽iziniz. 6. 2. 3. ve 4. 脹klardaki diren巽lere ait histogramlar脹 巽iziniz. 7. izilen her bir histogram脹n tepe deerlerini ekil 1.3teki kesikli 巽izgi gibi 巽iziniz. 8. Her 端巽 旦rnee ait ortalama sapmay脹 (D) hesaplay脹n脹z. 9. Her 端巽 旦rnee standart sapmay脹 (S) hesaplay脹n脹z. 10. 1. 脹ktaki toplam diren巽lerin ortalama ve standart sapmalar脹n脹 hesaplay脹p Tablo 1.2ye yaz脹n脹z.
  • 3. ekil 1.3 Etiket deeri 150 olan diren巽lerin da脹l脹m erisi Tablo 1.2 Diren巽 deeri rnek-1 rnek-2 Ortalama sapma (D) rnek-3 1: 2: 3: 1. 脹k: Standart sapma (S) 1: 2: 3: 1. 脹k:
  • 4. DENEY 2: LME HATALARI 1- A巽脹klama Bu deneyde 旦l巽端 hatalar脹n脹n kaynaklar脹 incelenerek deney sonu巽lar脹ndaki hatalar脹n analizi yap脹lacakt脹r. Hata, 旦l巽端len deer ile ger巽ek deer aras脹ndaki farkt脹r. Herhangi bir 旦l巽mede bir巽ok hata olabilir. Bu hatalar脹 en 旦nemlisi ve en etkilisin hangisi olduu bilinmelidir. eitli hata kaynaklar脹 vard脹r. 1. Eleman tolerans脹ndan kaynaklanan hatalar 2. Okuma hatalar脹 3. Cihaz hatalar脹 4. Deney hatalar脹 Bu deneyde kullan脹lacak eitlikler aa脹da g旦sterilmitir. 1. Ortalama diren巽 : Ro=(R1+R2+..+Rn) / n 2. Hata deeri : R=[(Rmax-Ro)+(Ro-Rmin)] / 2 3. Ba脹l hata : %R=(Ro-Rg) / Rg Rg=direncin ger巽ek deeri 4. ekil 1.1 i巽in : Rb=RaEo / (Ei-Eo) 2- Gerekli Cihaz ve Elemanlar 1. 1 adet dc g端巽 kayna脹 2. 1 adet b端y端k giri diren巽li voltmetre 3. 10 adet 2.2 k立luk diren巽 4. 1 adet 1 k立luk diren巽 3- Yap脹lacak 聴lemler 3.1. Eleman toleranslar脹ndan kaynaklanan hatalar: 1. ekil 1.1deki deney devresini kurunuz. voltmetre Ra=1 k立 Rb=2.2 k立 Eo Ei ekil 1.1 Diren巽 旦l巽端m devresi 2. Ei gerilimi ayarlayarak Eo=10 V olmas脹n脹 salay脹n脹z. Bu durumdaki Ei gerilimini kaydediniz. Deneyin bundan sonraki k脹s脹mlar脹nda da ayn脹 deerlerde kalmas脹na dikkat ediniz.
  • 5. 3. Dier 2.2 k立luk diren巽leri s脹ra ile Rb direnci olarak balay脹n脹z ve her birine ait Eo gerilimlerini 旦l巽端n端z. 4. 4 eitliini kullanarak 旦l巽端len 10 adet Rb direncinin her birini hesaplay脹n脹z ve Tablo 1.1e kaydediniz. 5. 1 eitliinden, ortalama direnci hesaplay脹n脹z. 6. 2 eitliinden hata deerini hesaplay脹n脹z. 7. Rg= 2.2 k立 olduuna g旦re 3 eitliinden ba脹l hatay脹 hesaplay脹n脹z. 8. l巽端len ve hesaplanan deerleri Tablo 1.1e yerletiriniz. 3.2. Okuma hatalar脹: 1. Bilinmeyen bir Rx direnci her bir deney grubu taraf脹ndan ve benzer 旦l巽端 sistemleri ile 旦l巽端lecektir. 2. Her bir 旦l巽端 sonucu Tablo 1.1e yaz脹lacakt脹r. 3. 1 ba脹nt脹s脹ndan ortalama deeri hesaplay脹n脹z. 4. 2 ba脹nt脹s脹ndan hata deerini hesaplay脹n脹z. 5. 3 ba脹nt脹s脹ndan ba脹l hatay脹 hesaplay脹n脹z. 6. Elde edilen sonu巽lar脹 Tablo 1.1e kaydediniz. Tablo 1.1 Eleman toleranslar脹ndan kaynaklanan hatalar (3.1) Okuma hatalar脹 (3.2) Eo Rb (deerleri) Ei Diren巽 deerleri Ortalama deer Ortalama Rb Hata deeri Hata deeri Ba脹l hata Ba脹l hata Rnin ger巽ek de.