4. MO纏LIWOCI MIKROSKOPU
SEM:
obserwacja struktury materia坦w in甜ynierskich,
obserwacja powierzchni przeom坦w,
ujawnienie uszkodze korozyjnych i
trybologicznych,
analiza jakociowa i ilociowa skadu
chemicznego badanego obszaru,
analiza wtrce i wydziele w strukturze,
analiza dyfrakcyjna.
5. OGLNA BUDOWA
MIKROSKOPU SEM
Kolumna zawierajca:
urzdzenia tworzce i
formujce wizk
elektron坦w
komor preparatu
urzdzenia rejestrujce
obraz
ewentualne dodatkowe
oprzyrzdowanie
Zdjcie kolumny wraz z dziaem elektronowym oraz detektorami
mikroskopu SEM na Politechnice lskiej
10. KOMORA PREPARATU ZE
STOLIKIEM PRBEK
Zdjcie komory preparatu
mikroskopu SEM na
Politechnice lskiej
Ujcie komory z pr坦bkami od
wewntrz mikroskopu SEM
15. PARAMETRY
Mikroskopy skaningowe osigaj wartoci
napicia przyspieszajcego do 50kV.
Mikroskop SUPRA 35 przy napiciu
35 kV pozwala na rozdzielczo
mikroskopu 1,2 nm.